簡單介紹
Z掃描技術(shù)是一種簡單且流行的實驗技術(shù),用于測量材料的強度相關(guān)非線性磁化率。 Holmarc的Z掃描系統(tǒng)(型號:HO-ED-LOE-03)是z掃描技術(shù)的簡單實現(xiàn),可用于表征光學材料。
產(chǎn)品描述
測量材料的強度依賴性非線性磁化率
Z掃描技術(shù)是一種簡單且流行的實驗技術(shù),用于測量材料的強度相關(guān)非線性磁化率。
Holmarc的Z掃描系統(tǒng)(型號:HO-ED-LOE-03)是z掃描技術(shù)的簡單實現(xiàn),可用于表征光學材料。
實驗范例
測量材料的強度依賴性非線性磁化率
與z-掃描相關(guān)的兩個可測量量是非線性吸收和非線性折射。這些參數(shù)與三階非線性磁化率的虛部和實部相關(guān),并提供有關(guān)材料特性的重要信息。

特征
表征光學材料的非線性特性
光譜響應范圍為320-1100nm的光電探測器
黑色陽*氧化機械零件
光譜響應范圍為320-1100nm的光電探測器
黑色陽*氧化機械零件
光學面包板使系統(tǒng)靈活
高精度光學
用戶友好軟件
高精度光學
用戶友好軟件
圖Z-掃描透射率與Z的關(guān)系的理論曲線
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